Стилоскоп СЛП-1. Переносный стилоскоп СЛП-1 служит для быстрого визуального качественного и полуколичественного анализа всех наиболее распространенных марок легированных сталей и цветных сплавов по их спектрам излучения, в основном по элементам Cr, Ni, W, V, Zn, Fe, Pb, Sn, Al, Cu, Mg, Mo, Mn, Si методом спектрального анализа. Указанное число элементов, определяемых с помощью стилоскопа, может быть расширено. Так, например, имеются таблицы аналитических признаков, составленные для определения Cr, W, Mn, V, Mo, Ni, Co, Ti, Al, Nb, Zr, Si, Cu - в сталях; Zn, Ni, Mn, Fe, Pb, Sn, Al, Be, Si - в медных сплавах; Mg, Cu, Mn, Fe, Si, Zn - в алюминиевых сплавах и для ряда других сплавов.
Стилоскоп рассчитан на анализ крупногабаритного металла, металлического лома, громоздких агрегатов, крупных поковок, деталей крупногабаритных агрегатов и машин без их разборки и т. д. непосредственно на месте, где расположены объекты анализа, а также для работы в условиях полевых ремонтно-восстановительных мастерских, когда анализируемый объект не может быть доставлен в лабораторию для анализа на стационарном стилоскопе.
Анализ с помощью стилоскопа не сопровождается повреждением анализируемого объекта, и деталь после анализа может быть использована по своему прямому назначению. В случае необходимости переносный стилоскоп может быть использован как стационарный стилоскоп, для чего необходимо его закрепить на какой-либо подставке, а исследуемый материал поместить на отдельном столике. Кроме того, переносный стилоскоп может быть использован как обычный спектроскоп для спектрально-аналитических работ.
Стилоскоп может применяться в производственных условиях, включая, работу на открытом воздухе, под навесом в сухую погоду. В настоящем описании приведены лишь общие указания по использованию стилоскопа. Полная методика и инструкция по сортировке легированных сталей и цветных сплавов здесь не помещаются, так как они достаточно полно освещены в соответствующей литературе по спектральному анализу. Характеристики стилоскопа СЛП-1.
* Рабочий диапазон спектра 390-670 нм.
* Увеличение зрительной трубы (расчетное) 11,2х
* Угол расхождения крайних лучей 10°56.
* Диоптрийное перемещение окуляра от установки окуляра на спектральную линию 459,537 нм +9...-3 мм.
* Размеры выходного зрачка 2,3 х 1,2.
* Фокусное расстояние, мм:
o объектива 322,2
o окуляра 28,8.
* Габаритные размеры стилоскопа 190 х 180 х 695 мм.
* Масса, кг:
o стилоскопа, не более 6,5
o стилоскопа в укладке, не более 16.
* Генератор устойчиво работает от сети переменного тока напряжением 110 В или 220 В с частотой 50 Гц, при колебаниях напряжения в сети -10%...+5% и частоты -2%...+2% в дуговом и искровом режиме.
* Дуговой режим с силой тока 6,0 - 8,0 А.
* Режим низковольтной искры 3,0 - 4,0 А.
* Габаритные размеры генератора 405 х 160 х 350 мм.
* Масса, кг:
o генератора , не более 25
o генератора в укладке, не более 30.

Принцип действия стилоскопа СЛП-1.

По принципу действия стилоскоп аналогичен стилоскопам других конструкции. Между двумя электродами, одним из которых является анализируемый объект, а другим постоянный электрод стилоскопа (дисковый-медный или стержневой-стальной), зажигается дуга или искра, вследствие чего междуэлектродный промежуток заполняется светящимися парами материалов электродов. Лучи света от дуги направляются в спектральный аппарат через конденсор и узкую щель. Образующийся линейчатый спектр рассматривают при помощи окуляра и устанавливают присутствие в спектре характерных спектральных линий определяемых элементов. Наблюдаемый через окуляр спектр содержит линии основного элемента пробы и электрода стилоскопа и линии примесей, имеющихся в анализируемой пробе. Наличие линий того или иного элемента в спектре свидетельствует о присутствии этого элемента и анализируемом объекте; отсутствие линий является признаком того, что искомого элемента в анализируемом объекте в количествах, доступных для определения с помощью стилоскопа, нет. Для большинства перечисленных выше элементов эти линии не являются в спектре при концентрациях порядка нескольких десятых и сотых долей процента. Концентрация анализируемого элемента определяется с помощью спектральных таблиц по сравнительной интенсивности свечения его характерных линий и линии основного элемента.